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电子芯片高低温快速温变试验箱
参考价:¥6999

型号:QZ-LK225-X8

更新时间:2022-08-19  |  阅读:885

详情介绍

一、电子芯片高低温快速温变试验箱概述:

      试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域*的测试设备,用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、交变或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。

二、电子芯片高低温快速温变试验箱参数:

  1. 标称内容积

225L

  1. 内型尺寸

500*750*600 mm  (W*H*D)

  1. 外型尺寸

依照实际尺寸制造(后期会给出具体尺寸)

  1. 重量

520

  1. 散热方式

水冷式(水塔用户提供)

性能

  1. 测试环境条件
  2. 测试方法

执行双85试验(即85度温度,执行湿度85%)
(测试方法,依照客户要求而定)

  1. 温度范围

-40~150

  1. 温度波动度

±0.5℃

  1. 温度偏差

±2.0℃

  1. 温度均匀度

±2.0℃

  1. 升温时间

-40℃→+85℃   15min (8.3℃/min 快温变范围

  1. 降温时间

+85℃→-40℃   15min (8.3℃/min 快温变范围

  1. 负载情况

-40℃→+150升降温满足50W

  1. 总功率

约26KW

 安装说明:

2、为了稳定地发挥试验箱的功能、性能,应选择常年温度为 3 0  ℃以下,相对湿度小于 85%的场所。
3、安装场所的环境温度切忌急剧变化。
4、应安装在水平的地面上(安装时应用水平仪在地面上确定水平)。
5、应安装在无直射阳光的场所。
6、应安装在通风良好的场所。
7、应安装在远离可燃物、易爆及高温发热源的地方。
8、应安装在灰尘少的场所。
9、尽可能地安装在靠近供电电源的场所。

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