半导体芯片可靠性测试一般是环境测试和寿命测试，主要就是温度试验、湿热试验等等（主要的测试设备是恒温恒湿试验箱、冷热冲击试验箱、快速温变试验箱等），用来考验芯片的耐环境承受能力；而寿命测试主要包含工作和储存测试，检验产品经过存放和使用后的功能和品质是否正常。那么它的试验流程是怎么样的呢？请看下方的图片介绍哦~

       东莞市勤卓环境测试设备有限公司专业生产10余年，凭借*的技术优势和完善的售后服务，先后与中科院、中船重工、福特汽车、清华大学、比克电池等数千家企业和科研单位达成合作；且通过多年潜心研发和技术完善，勤卓环测出品的可程式高低温恒温恒湿试验箱、高低温湿热交变循环试验箱、高低温冷热交替冲击试验箱、步入式环境试验室、非线性快温变试验箱、紫外线加速老化试验箱、淋雨防水试验箱、防尘粉尘试验箱、恒温鼓风干燥箱、盐水喷雾腐蚀试验机、电磁模拟振动台等多种“精专化"环境测试设备，已然成为全国业界的信赖者。